簡(jiǎn)介

ELA 是我們用于電子能量損失譜 (EELS) 和四維掃描透射電子顯微鏡 (4D STEM) 應用的電子計數檢測器。它可以檢測弱反射和強反射，以實(shí)現高級衍射和成像研究，并允許快速元素映射。該探測器集成在 Gatan 4D-STEM 中。

像素尺寸 [μm2]

75x75

傳感器材料

硅 (Si)

能量范圍 [keV]

30 - 200

幀速率 (最大) [Hz]

2,250 (16-bit); 4,500 (8-bit)

探測光子效率

0.9 at 100 kV, 0.8 at 200 kV

核心優(yōu)勢

這種混合像素電子探測器快速而靈敏，能夠在電子能量損失光譜 (EELS) 和 4D 掃描透射電子顯微鏡 (STEM) 中進(jìn)行先進(jìn)數據收集。                                          

應用領(lǐng)域

    -電子能量損失譜（EELS）                

-4D STEM                                    

介紹手冊